OLYMPUS 奧(ao)林巴(ba)斯(si)半導體顯微鏡BX53M

為工業和材料學應用而設計

OLYMPUS 奧林巴斯半導體顯微鏡BX53M系列采用了模塊化設計，為廣泛的材料學和工業應用提供了多樣化的解決方案。
BX53M改進了與奧林巴斯Stream軟件的集成性，從而為常規顯微鏡檢查和數碼成像用戶提供了從觀察到報告創建的無縫工作流程

高級的(de)顯微觀(guan)察(cha) 便捷的(de)顯微操作

用戶(hu)友(you)好性

簡單的、向導式的顯微鏡操(cao)作設(she)置(zhi)，使(shi)用戶更容易進行調節，并復制系統(tong)設(she)置(zhi)

功能性(xing)

BX53M為傳統的工(gong)業顯(xian)微(wei)鏡檢(jian)(jian)查而設計，并擴(kuo)展(zhan)了(le)其功能，以滿足(zu)更廣泛的應用和(he)檢(jian)(jian)查技術(shu)的要求。

精密的光學元件

奧林(lin)巴斯公(gong)司(si)具(ju)有生(sheng)產高質(zhi)量光(guang)學(xue)元件的悠久歷(li)史，無論(lun)用目鏡觀察(cha)，還(huan)是(shi)通過顯示器(qi)觀察(cha)，都具(ju)備*的圖像畫質(zhi)。

全面(mian)可(ke)定(ding)制性(xing)

模塊(kuai)化設計(ji)可以為用戶(hu)靈活地構建滿足(zu)其特(te)殊(shu)要求的系(xi)統(tong)。

直觀的顯微鏡控制舒適而便于使用

顯微檢查任務常常需要用很長的時間來調節顯微鏡設置、獲取圖像，以及進行必要的測量，
從而得到令人滿意的報告。用戶有時需要投入時間和金錢去完成專業的顯微鏡培訓，或只
了解了顯微鏡全部功能的很小部分就開展工作。
BX3M通過其優良的設計和便捷的控制功能，簡化了復雜的顯微檢查任務。用戶不需要長時
間的培訓即可掌握顯微鏡的大多數功能。BX3M方便而舒適的操作還改善了圖像的再現性，
zui大程度減少了人為錯誤。

簡單的(de)照明(ming)器：傳(chuan)統(tong)技術易于(yu)操作

照明(ming)器的(de)設計zui大程度減少(shao)了(le)顯微(wei)鏡(jing)操(cao)作(zuo)過程中通常(chang)所(suo)必須的(de)復(fu)雜操(cao)作(zuo)。照明(ming)器前端(duan)的(de)旋(xuan)鈕使用戶能(neng)夠輕松地改變(bian)觀(guan)察(cha)(cha)方法(fa)。操(cao)作(zuo)者(zhe)可以在反射光顯微(wei)鏡(jing)檢查(cha)時快(kuai)速切換(huan)zui常(chang)用的(de)觀(guan)察(cha)(cha)方法(fa)，比如從明(ming)場觀(guan)察(cha)(cha)到暗場觀(guan)察(cha)(cha)，到偏(pian)光觀(guan)察(cha)(cha)，以隨時改變(bian)不同類(lei)型的(de)分析。此外，旋(xuan)轉檢偏(pian)鏡(jing)即可調(diao)節簡單的(de)偏(pian)光觀(guan)察(cha)(cha)。

直觀(guan)的顯微鏡控制

使用正確的孔徑光闌(lan)和視場光闌(lan)設置能夠獲得良好(hao)的圖像(xiang)對(dui)比度，還可以充分利用物(wu)鏡的數值(zhi)孔徑。指示(shi)標志(zhi)可引(yin)導用戶根據觀察(cha)方法(fa)和所用物(wu)鏡進行正確的設置。

對焦刻度標尺：快(kuai)速找到焦點(dian)

機架上的對焦(jiao)刻(ke)度標尺支持快(kuai)速鎖定(ding)焦(jiao)點(dian)。操作者可以大致地對準焦(jiao)點(dian)，而(er)不(bu)用通過目鏡(jing)查看(kan)樣(yang)品，從而(er)在(zai)檢查具有不(bu)同高度的樣(yang)品時節(jie)省了(le)時間。

針對各種檢(jian)查和分析任務的功能

保留了常規顯微鏡檢查的傳統襯度對比法，比如明場、暗場、偏光和微分干涉。隨著
新材料的發展，現在可以使用*的顯微鏡檢查技術來進行更精確和更可靠的檢查，從而解
決了以往很多使用傳統襯度對比法檢查時遇到的缺陷檢測方面的困難。新的照明技術和奧林
巴斯Stream圖像分析軟件內的圖像獲取選項為用戶提供了評估樣品、文檔記錄的更多選擇。
此外，BX3M還可用于比傳統型號更大、更重、更特殊的樣品。

容納豐富多樣的(de)樣品可(ke)以容納更多的(de)樣品類型和(he)尺(chi)寸

新型150×100mm載(zai)物(wu)臺在X方向上提供(gong)了比以前的型號更大(da)的行程。再加上其載(zai)物(wu)臺板的平板式設(she)計，可以輕松地將大(da)樣品，或多(duo)個樣品放置在(zai)載物臺上。載物臺板(ban)上開(kai)有小孔，可用(yong)(yong)于固定(ding)樣(yang)品(pin)架(jia)。更大的(de)載物臺為用(yong)(yong)戶(hu)提供(gong)了靈活性(xing)，使他們(men)能夠(gou)在(zai)一(yi)臺顯微(wei)鏡上(shang)檢查更多的樣品，從而節(jie)省了寶貴的實驗室空間。可調節(jie)扭力的載物臺方便(bian)了高倍下窄視野的微調定位。

樣品高度(du)和重量(liang)的靈活(huo)性

使用選配的模塊(kuai)組(zu)件可以將zui高105mm的樣品放(fang)置在載(zai)物臺上。由于(yu)改(gai)

進了調焦機構，因此顯微鏡可以容納zui重6kg的總重量（樣品+載物臺）。這就意味著BX3M可以檢查更大、更
重的樣品，從而減少了實驗室內所需的顯微鏡數量。通過戰略性地將用于6英寸晶圓的旋轉托架放置在偏離中心的位置，在100mm行程范圍內移動時，用戶僅旋轉晶圓托架即可觀察整個晶圓表面。優化了載物臺的扭力調節，以便于使用，舒適的手柄使用戶更易于找到樣品的感興趣區域。

樣品尺(chi)寸大小的(de)靈(ling)活(huo)性(xing)

如果樣品(pin)太大(da)，難以放置在(zai)常規顯微(wei)鏡載物(wu)臺上(shang)，則可以把用(yong)(yong)于(yu)反射光(guang)顯微(wei)鏡觀(guan)察(cha)的(de)核心光(guang)學(xue)(xue)部件組裝到一個模塊化的(de)系(xi)統里。這種(zhong)模塊化系(xi)統，就(jiu)是BXFM，它可以通過一個支(zhi)撐(cheng)桿安(an)裝在(zai)更大(da)的(de)支(zhi)架上(shang)，或使用(yong)(yong)安(an)裝托架安(an)裝在(zai)另一臺儀(yi)器上(shang)。這就(jiu)使用(yong)(yong)戶能夠充(chong)分利(li)用(yong)(yong)奧林(lin)巴斯優(you)異的(de)光(guang)學(xue)(xue)元件的(de)優(you)勢，即使其樣品(pin)在(zai)尺寸或形(xing)狀上(shang)都很*。