全自動清(qing)潔度分(fen)析系統(tong)，可(ke)以精確快速地完(wan)成(cheng)技(ji)術清(qing)潔度檢(jian)測環節中的(de)光學分(fen)析，包括標(biao)準(zhun)分(fen)析和(he)深入分(fen)析，涵蓋濾(lv)膜掃描(miao)、顆(ke)粒結(jie)果復核和(he)報表生成(cheng)以及數據展現四(si)個步驟(zou)，具有高可(ke)靠性(xing)和(he)高精確性(xing)的(de)檢(jian)測數據結(jie)果、直觀(guan)的(de)用戶操作界(jie)面，以及傳(chuan)統(tong)掃描(miao)速度兩倍(bei)的(de)偏光一(yi)次掃描(miao)技(ji)術等(deng)多項技(ji)術特點。

1.     全自(zi)動檢(jian)測(ce)操(cao)作：使復雜的檢(jian)測(ce)流程簡(jian)單化，檢(jian)測(ce)人員易上手，智能(neng)化檢(jian)測(ce)。

2.     自動拍照 / 無縫拼接/先近圖像矯正技術 / 百分之100圖像預(yu)覽：采用核心(xin)無(wu)縫拼圖技(ji)術，保證(zheng)邊緣圖像無(wu)陰(yin)影暗角，超越進口設(she)備拼接效果。

3.     超高自動(dong)化程(cheng)度：一(yi)(yi)鍵操(cao)作，僅一(yi)(yi)次掃描。避免人為操(cao)作誤(wu)差(cha)，保證測(ce)量系(xi)統(tong)重復性(xing)，用戶無需復雜的專業(ye)知(zhi)識，也可(ke)輕松完(wan)成(cheng)清潔度檢(jian)測(ce)系(xi)統(tong)分析。

4.     顆(ke)粒算法：系統分析(xi)標準中包含多種(zhong)顆(ke)粒尺寸(cun)定義，結合圖像算法，滿足不同(tong)客戶不同(tong)標準對顆(ke)粒的不同(tong)分析(xi)要求(qiu)。

5.     精準回看：對目標顆粒ID回溯功能,進一步測量，判斷(duan)顆粒屬性，使數據更可靠。

6.     系統可自動設定符合 VDA19.1-2015/ISO16232-2018 規定的曝光時間和閾(yu)值。

7.     掃(sao)描后的(de)所(suo)(suo)有(you)(you)顆粒(li)可進(jin)行(xing)人工審閱(yue)復核和(he)修(xiu)改(gai)，修(xiu)改(gai)結果(guo)實時自動(dong)(dong)更(geng)新：掃(sao)描檢(jian)測完的(de)所(suo)(suo)有(you)(you)顆粒(li)污染物可進(jin)一步人工審閱(yue)復核，對軟件誤判的(de)顆粒(li)及時進(jin)行(xing)刪除(chu)，拆分(fen)，合并和(he)更(geng)改(gai)顆粒(li)屬性。審閱(yue)修(xiu)改(gai)的(de)顆粒(li)結果(guo)，在所(suo)(suo)有(you)(you)視圖(tu)和(he)檢(jian)測結果(guo)中實時自動(dong)(dong)更(geng)新。

8.     用(yong)(yong)(yong)(yong)戶權限分(fen)級管(guan)(guan)理(li)功能和中英文版本自由切換：全(quan)自動(dong)清潔(jie)度分(fen)析(xi)系統(tong)(tong)可以(yi)根(gen)據(ju)用(yong)(yong)(yong)(yong)戶管(guan)(guan)理(li)賬號(hao)，按照管(guan)(guan)理(li)員、用(yong)(yong)(yong)(yong)戶不同(tong)級別進行使(shi)用(yong)(yong)(yong)(yong)功能的分(fen)級授全(quan)，保障系統(tong)(tong)的校(xiao)準數據(ju)、檢測標準設置等的安全(quan)，防(fang)止(zhi)被(bei)操(cao)作員誤(wu)操(cao)作意外改動(dong)和刪(shan)除。

9.     SQL數據庫：常規(gui)分析系統(tong)(tong)只有顆(ke)粒數據及MAP圖儲存，無法(fa)數據統(tong)(tong)計。本系統(tong)(tong)增加了SQL數據庫統(tong)(tong)計功能，可選擇(ze)任意時間段(duan)查看并調出蕞大金屬顆粒(li)、任意顆粒(li)尺(chi)寸(cun)范圍數據(ju)，并以趨勢圖表述。可為生產過程控(kong)制提(ti)供直(zhi)觀(guan)數據(ju)。