零部(bu)件(jian)通(tong)常(chang)有金屬(shu)和(he)(he)非(fei)金屬(shu)材(cai)質(zhi)，表面顆粒物或者材(cai)料(liao)的(de)結(jie)構組(zu)成(cheng)往(wang)往(wang)會對零部(bu)件(jian)的(de)使用(yong)及壽命產生(sheng)影響(xiang)，從而(er)影響(xiang)其他組(zu)合零件(jian)的(de)性(xing)能。我們需要利用(yong)金相顯微鏡去觀察和(he)(he)分析，今天我們了解下如何觀察這些材(cai)料(liao)？

（1）材料(liao)的表面形貌觀察

　　通過(guo)掃(sao)描電子顯(xian)微鏡觀察材料表面形貌，為(wei)研究樣品形態結構提供了便利(li)，有(you)助于監控產品質量，改善工藝。

　　觀察的主要內容是分(fen)析材料的幾(ji)何形貌、材料的顆粒(li)度(du)及顆粒(li)度(du)的分(fen)布、物相的結(jie)構等。

（2）涂鍍層表(biao)面形貌(mao)分析(xi)與鍍層厚度測量

　　?涂鍍層表面(mian)形貌分(fen)析

　　常見涂(tu)鍍層失效現象有：褪色、圖案模糊、表面(mian)(mian)磨損、腐蝕等，通過對涂(tu)層表面(mian)(mian)形(xing)貌的觀(guan)察(cha)與分(fen)析(xi)，可(ke)以有效的對產品(pin)質量進行管控。材(cai)料剖面(mian)(mian)的特征 、零件(jian)內部的結構(gou)及損傷(shang)的形貌，都可(ke)借助(zhu)掃描電子(zi)顯微鏡來判(pan)斷和(he)分(fen)析。

　　?涂鍍層厚度(du)測量

　　涂鍍層厚(hou)度(du)直(zhi)接影(ying)響了(le)零件或產品的耐腐蝕性(xing)(xing)、裝飾(shi)效(xiao)果、導電(dian)性(xing)(xing)、產品的可靠性(xing)(xing)和使用(yong)(yong)(yong)壽命，因此，鍍層厚(hou)度(du)在產品質量、過程(cheng)控制(zhi)(zhi)、成(cheng)本控制(zhi)(zhi)中(zhong)都(dou)發(fa)揮著重要作(zuo)用(yong)(yong)(yong)。使用(yong)(yong)(yong)掃描電(dian)子顯微鏡能(neng)精(jing)確測量材料鍍層厚(hou)度(du)，且成(cheng)像清晰。

（3）材(cai)料的微區化學成分(fen)分(fen)析

　　分(fen)析(xi)過程中，獲(huo)得形貌放大像后(hou)，往往希望能同時進行(xing)原位化學成分(fen)或晶體結構(gou)分(fen)析(xi)，提供包(bao)括形貌、成分(fen)、晶體結構(gou)或位向在內的(de)更多信息,以便能更全面、客觀地進行判斷分析。

為此(ci),相繼出現了金相顯(xian)微鏡(jing)——多種(zhong)分析功(gong)能的組合(he)型分析儀器(qi)。

金(jin)相顯(xian)微(wei)鏡系統是將傳統的光學顯(xian)微(wei)鏡與計算(suan)機（數碼(ma)相機）通過(guo)光電(dian)(dian)轉換有機的結合在一(yi)起，不僅可以在目(mu)鏡上作顯(xian)微(wei)觀察(cha)，還(huan)能在計算(suan)機（數碼(ma)相機）顯(xian)示屏幕上觀察(cha)實時動態圖(tu)像，電(dian)(dian)腦(nao)型金(jin)相顯(xian)微(wei)鏡并能將所需要的圖(tu)片進(jin)行編(bian)輯、保(bao)存和打印。