金(jin)相分(fen)析的常規(gui)檢測(ce)(ce)項(xiang)目主(zhu)要有微觀(guan)成(cheng)分(fen)分(fen)析、宏(hong)(hong)觀(guan)金(jin)相、低(di)倍(bei)組織、平均晶粒度、非金(jin)屬夾雜物(wu)、顯微組織、現場金(jin)相、斷口分(fen)析等。這(zhe)其(qi)中微觀(guan)成(cheng)分(fen)分(fen)析主(zhu)要用于腐(fu)蝕產物(wu)的類(lei)型及分(fen)布(bu)、基(ji)體(ti)中的主(zhu)元素以及分(fen)布(bu)情況、涂鍍(du)層的成(cheng)分(fen)與分(fen)布(bu)對(dui)應等檢測(ce)(ce)。而宏(hong)(hong)觀(guan)分(fen)析則是(shi)按(an)照具體(ti)檢測(ce)(ce)要求(qiu)，通過光學顯微鏡(jing)、掃描電(dian)鏡(jing)、透射(she)電(dian)鏡(jing)對(dui)樣品(pin)的表(biao)面、斷口及其(qi)它關(guan)注截面進(jin)行高(gao)倍(bei)觀(guan)察。下(xia)面我(wo)們來了解下(xia)斷口檢測(ce)(ce)分(fen)析：

     斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)檢驗是一種(zhong)常(chang)用的(de)(de)宏觀檢驗方(fang)法(fa)，是反映材料冶金(jin)質量(liang)(liang)和熱加(jia)工工藝質量(liang)(liang)的(de)(de)有效手段(duan)。斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)檢驗的(de)(de)斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)來源(yuan)可以(yi)分(fen)為兩種(zhong)，一是機件(jian)在使用過程(cheng)中的(de)(de)斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)或是拉力試驗就、沖(chong)擊試驗的(de)(de)斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)，二是根據(ju)有關技術規定專(zhuan)門制作的(de)(de)斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)試樣產生的(de)(de)斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)。前者斷(duan)(duan)口(kou)(kou)(kou)來源(yuan)無需(xu)任何加(jia)工制樣過程(cheng)，保(bao)留斷(duan)(duan)裂的(de)(de)原始面(mian)進行分(fen)析，是非常(chang)便捷的(de)(de)宏觀組織和缺陷的(de)(de)分(fen)析方(fang)法(fa)。

    在一些金屬加(jia)工(gong)工(gong)藝中可(ke)以通過金相分析來進行檢(jian)測(ce)。