清潔度檢測(ce)系統的(de)存在是為了評估被(bei)清(qing)潔的(de)物體清(qing)潔度(du)，像航天、汽車、手(shou)表等(deng)行業，對零(ling)(ling)部件(jian)的(de)清(qing)潔度(du)要(yao)求(qiu)很(hen)高。由于常見的(de)有(you)顆粒粉塵污(wu)(wu)染，這些污(wu)(wu)染物來源眾多(duo)，如果(guo)沒把(ba)控好零(ling)(ling)部件(jian)表面的(de)顆粒粉塵污(wu)(wu)染物，造(zao)成部件(jian)系統內部過(guo)多(duo)、過(guo)大的(de)顆粒粉塵污(wu)(wu)染物，會非常容(rong)易造(zao)成設(she)備(bei)的(de)壽命降(jiang)低甚至失效。因此對零(ling)(ling)部件(jian)進行清(qing)潔度(du)檢測是很(hen)有(you)必要(yao)的(de)。

　　清潔度測試時對取樣有要求，取樣的基本要求決定于樣品的數量和取樣位置。零件體積越大、表面積越大、清潔度偏低，則樣品數量相應減少。應該從生產中隨機抽取零件，并且采樣過程和后面的檢查過程中不能造成零件的污染。清潔度測試時，一要環境清潔，其清潔度測試應與檢測的要求相適應；二要檢測人員的衣帽和雙手清潔；三要所用器具也必須清潔。
　　清潔度檢測系統的優點：

自動測量并計算出單(dan)個顆粒的(de)面積、寬(kuan)度(du)、長度(du)等尺(chi)寸。

高精度(du)XYZ電(dian)動掃描臺。

高分辨率專用數字采集系(xi)統。

單張(zhang)濾膜檢測及(ji)5μm以上顆(ke)粒的(de)掃(sao)描時(shi)間和評價時(shi)間≤15分鐘。

自(zi)(zi)動(dong)調節(jie)光強(qiang)、自(zi)(zi)動(dong)聚焦(jiao)、多視場(chang)自(zi)(zi)動(dong)掃描、自(zi)(zi)動(dong)采集圖像、自(zi)(zi)動(dong)顆粒統計分析。

系統支持高(gao)度(du)測量和三維(wei)形貌：大顆粒高(gao)度(du)測量，典型顆粒的三維(wei)形貌圖。

自動計(ji)(ji)算(suan)金(jin)屬顆粒(li)、非(fei)金(jin)屬顆粒(li)的(de)(de)數(shu)量，顆粒(li)的(de)(de)長度(du)(du)等級進(jin)行歸(gui)類(lei)(lei)和等級判定，并能計(ji)(ji)算(suan)濾膜上纖維(wei)的(de)(de)總長度(du)(du)，可自定義分類(lei)(lei)區間。