上(shang)海辛茨(ci)提供(gong)全自動清潔(jie)(jie)(jie)度(du)分(fen)析(xi)系(xi)統(tong)，自動清潔(jie)(jie)(jie)度(du)清洗制樣設(she)備，清潔(jie)(jie)(jie)度(du)檢測耗材，清潔(jie)(jie)(jie)度(du)實驗室規(gui)劃建設(she)，ISO16232/VDA19清潔(jie)(jie)(jie)度(du)檢測培訓。可根(gen)據用戶(hu)不同需要提供(gong)各類(lei)OLYMPUS、LEICA顯微(wei)鏡，并提供(gong)與顯微(wei)鏡配套的攝像裝置、圖像分(fen)析(xi)軟件、電動掃描臺、以及顆粒清潔(jie)(jie)(jie)度(du)檢測服務。

目前顆粒清潔度檢測(ce)主要存在3方(fang)面問題：

一、濾膜選擇與前處理顆粒積聚、濾膜發黑的問題

　　1. 目前作為(wei)顆粒度(du)檢測的濾膜材(cai)質有(you)很多，如(ru)纖維素膜、特(te)氟龍膜、尼龍濾膜、網格(ge)濾膜等。其中纖維素膜和網格(ge)濾膜比(bi)較常用(yong)。

　　2.很多客戶反映在使(shi)用纖(xian)維(wei)素濾(lv)膜會出(chu)現濾(lv)膜發黑的(de)(de)問題，導致顆粒無法(fa)辨認。此問題是(shi)因(yin)為工(gong)件(jian)中的(de)(de)油脂在加工(gong)過(guo)程中在熱作用下生產碳黑、焦油、樹脂而不溶于萃(cui)取(qu)液，過(guo)濾(lv)時滯留在纖(xian)維(wei)素濾(lv)膜上，所以使(shi)濾(lv)膜變黑變黃。在工(gong)件(jian)的(de)(de)油脂較多的(de)(de)情況下，應使(shi)用網格(ge)濾(lv)膜。

 纖(xian)維素濾(lv)膜與網格濾(lv)膜

      選擇了網格(ge)濾(lv)膜的(de)情況下，有時會姓網格(ge)反光(guang)，需(xu)要注意選擇有光(guang)濾(lv)片的(de)清(qing)潔度(du)儀(yi)，以避免把網格(ge)的(de)反光(guang)誤判(pan)成金屬顆(ke)粒(li)，降低樣品合格(ge)率(lv)。

　　3. 另外在(zai)(zai)制作濾(lv)膜時(shi)(shi)，會發生顆粒積(ji)聚、分(fen)散不均勻的問題。這(zhe)是因為(wei)在(zai)(zai)操作時(shi)(shi)，噴(pen)壺噴(pen)嘴直(zhi)接對濾(lv)膜沖刷(shua)造(zao)成。正確的方法(fa)應該是使濾(lv)液沿著管壁緩緩流(liu)過(guo)濾(lv)膜(如下圖)。

 濾膜制(zhi)作流(liu)程(cheng)

正常濾(lv)膜(mo)與差點濾(lv)膜(mo)對(dui)比

二、測試耗時過長與測量精度易受人為操作影響

　 　1.傳統顯微(wei)(wei)鏡式顆粒(li)清潔度儀(yi)是通過在濾膜上畫格(ge)，逐格(ge)局(ju)部放(fang)大顆粒(li)，然后用軟件將局(ju)部圖(tu)拼接成(cheng)大圖(tu)。據某發動機公司反映(ying)，顯微(wei)(wei)鏡式測試每次需花費 20分鐘(zhong)至(zhi)40分鐘(zhong)(不計前處理)，難以(yi)應付普通的(de)測試量(一天10個(ge)樣品)，經常要加(jia)班。 而且其(qi)配置的(de)軟件不可根據客戶的(de)測試標(biao)準不同進行不同的(de)尺寸分級。

傳(chuan)統顯微鏡式顆(ke)粒清潔度儀的掃描方式

 2. 顯微(wei)(wei)鏡(jing)式顆粒清潔度儀的微(wei)(wei)距需定期上門或發(fa)回供(gong)應商處校準(多(duo)數為一年校(xiao)準一次)，否則，當(dang)微(wei)(wei)距出(chu)現小(xiao)至微(wei)(wei)米級的偏差時，就會將每格邊緣的顆(ke)粒(li)(li)或較大顆(ke)粒(li)(li)裂(lie)解成多個(ge)顆(ke)粒(li)(li)，造成結(jie)果不(bu)準確(如下(xia)圖所示)。

上圖表明，用(yong)高倍(bei)數顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)掃描(miao)時，每格只有2微(wei)米，所以顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)的移動軸承即(ji)使用(yong)0.1微(wei)米的誤差，也會造成顆粒(li)物(wu)裂解。

3.同時，人為調焦(jiao)也是影(ying)響結果(guo)準確性(xing)的一個主要(yao)因(yin)素。某(mou)發動機公司的反(fan)饋(kui)結果(guo)是，當焦(jiao)距(ju)調遠時，可見顆粒(li)數量會減少，當焦(jiao)距(ju)調近時，顆粒(li)數量會增加(jia)，因(yin)此，其結果(guo)的客(ke)觀性(xing)值(zhi)得(de)懷疑(yi)。

　　解決(jue)方案是使用掃(sao)描(miao)式顆(ke)粒清潔度(du)儀(yi)，通(tong)過高精度(du)掃(sao)描(miao)儀(yi)一次掃(sao)描(miao)成像(xiang)，2.5分鐘即可(ke)完(wan)成掃(sao)描(miao)，0.5-1分鐘后就得出測(ce)試結果與報告。整個(ge)測(ce)試時(shi)間在3分鐘左右。全(quan)過程為(wei)儀(yi)器(qi)自動操作，*避開(kai)人為(wei)操作的影響(xiang)。

三、運輸包裝問題。

　 　很多(duo)客戶反映：零(ling)件(jian)(jian)在(zai)(zai)出(chu)(chu)貨時的(de)(de)顆(ke)粒度檢(jian)測(ce)是(shi)合格(ge)的(de)(de)，但(dan)是(shi)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)好發(fa)貨到(dao)下游(you)時，在(zai)(zai)下游(you)客戶處(chu)再作(zuo)顆(ke)粒度檢(jian)測(ce)卻(que)是(shi)不(bu)合格(ge)的(de)(de)。造(zao)成這個(ge)問題的(de)(de)原因是(shi)零(ling)件(jian)(jian)在(zai)(zai)打(da)包(bao)(bao) 出(chu)(chu)貨時零(ling)件(jian)(jian)之間(jian)的(de)(de)孔(kong)隙(xi)比較(jiao)稀松，隨(sui)后運輸過程中的(de)(de)顛簸(bo)會使零(ling)件(jian)(jian)之間(jian)相互(hu)磕碰，造(zao)成新的(de)(de)顆(ke)粒產(chan)生。由此(ci)以來，再加上包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)掉(diao)落(luo)的(de)(de)碎屑，零(ling)件(jian)(jian)到(dao)客戶處(chu)的(de)(de)時候，顆(ke) 粒清潔度肯定容易超出(chu)(chu)要求(qiu)范圍。因此(ci)，小零(ling)件(jian)(jian)在(zai)(zai)發(fa)貨前(qian)建議(yi)采用(yong)真空打(da)包(bao)(bao)，避免(mian)零(ling)件(jian)(jian)磕碰的(de)(de)現象發(fa)生。

 　 　目前，利(li)用掃描法原理的顆(ke)粒物(wu)清(qing)潔度(du)儀已是(shi)清(qing)潔度(du)測(ce)(ce)試的主流趨勢(shi)，克服了顯微鏡(jing)式(shi)顆(ke)粒清(qing)潔度(du)儀測(ce)(ce)量單(dan)個樣品耗(hao)時長、數據(ju)易(yi)受校準情(qing)況和人為(wei)因素的影響， 報告無法根據(ju)客(ke)戶要求分級(ji)等弊端。

高精度(du)顆粒物清(qing)潔度(du)檢(jian)測(ce)儀

    上(shang)海辛茨采用高(gao)精度(du)掃描(miao)儀整(zheng)體(ti)掃描(miao)濾膜(mo)法打破(po)了以(yi)往的(de)(de)顯微鏡式顆(ke)粒清(qing)潔(jie)度(du)儀需在濾膜(mo)上(shang)畫格(ge)逐一觀察的(de)(de)方法。其操作簡單快速，2.5分鐘即完(wan) 成掃描并分析，自動的操作方式對操作人員要求低，無需專業人員進行類似顯微鏡法的調焦、調光等動作。，同時，上海辛茨根據其豐富的檢測經驗設計出的專業分析 軟件，依靠(kao)高精度掃(sao)描(miao)儀的配合，快速輸出(chu)的科(ke)學可靠(kao)的顆粒清潔度數據并全自動生(sheng)成(cheng)審計報告(gao)。